日本 位相差橢圓偏振測量儀
日本 位相差橢圓偏振測量儀
超寬量程覆蓋:突破傳統設備量程限制,從 2nm 以下的超低位相差到 20000nm 的超高位相差,一臺設備滿足全場景測量需求
LED 光源革命:采用長壽命 LED 光源,告別傳統汞燈的定期更換,設備維護成本大幅降低,同時提升測量穩定性
精度全面提升:方位角分辨率提升至 0.001°,位相差重復性提升 3 倍以上,確保測量數據的精準性與長期一致性
緊湊型設計:在不損失性能的前提下,設備體積大幅縮小,適配實驗室空間緊張的場景
位相差檢測:精準測量光學薄膜、塑料、玻璃的雙折射與內應力,為材料品質管控提供數據支撐
橢圓偏振分析:HBPR 型號可完成橢圓偏振光測量,精準計算薄膜厚度、折射率等光學參數,適配半導體、光學涂層行業
分光測量:SPC 型號支持 400~800nm 全光譜分光測量,可分析樣品的光譜特性,適配復雜多層膜結構分析
斜入射測量:支持 30~40° 斜入射測量,適配偏光片等特殊樣品的檢測需求
深圳市秋山貿易有限公司版權所有 地址:深圳市龍崗區龍崗街道新生社區新旺路和健云谷2棟B座1002